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通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備

簡(jiǎn)要描述:通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備用途:用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè)用途:用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

  • 產(chǎn)品型號(hào)AP-CJ
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間2024-11-06
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量1272

詳細(xì)介紹

品牌愛(ài)佩科技/A-PKJ價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)

通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備用途:用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。
通訊高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備特點(diǎn)
1)的造型設(shè)計(jì),操作簡(jiǎn)易之面板接口
2)采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。
3)具有程序建文件及檔案管理之功能。
4)無(wú)紙式記錄功能,具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線(xiàn)圖及記錄雙重功能。
5)冷熱沖擊機(jī)械移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi),可符合MIL,IEC,JIS等規(guī)范。
6)冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5秒內(nèi),可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。
7)采用HFC環(huán)保冷媒,二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì),降溫快效率高。
8)的中/英文版聯(lián)機(jī)操作、設(shè)定、記錄軟件包。
主要技術(shù)參數(shù) :
1.內(nèi)箱尺寸:500*400*400mm(寬,高,深)更多小或者大的尺寸均可非標(biāo)定制。
   外箱尺寸:1380*1980*1370mm(寬,高,深)非標(biāo)容積的設(shè)備外尺寸以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.預(yù)熱溫度范圍:常溫~+200℃;
3.預(yù)熱高溫度范圍:常溫~200℃;約30min;(儲(chǔ)能溫度范圍)
4. 預(yù)冷溫度范圍:常溫~-75℃;約80,min(儲(chǔ)能溫度范圍)(注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能)
5.試驗(yàn)方式:3溫區(qū)(也稱(chēng)三箱式,愛(ài)佩還有兩箱式結(jié)構(gòu)可選擇)
6.溫度沖擊范圍:-65℃~+150℃(中間任意溫度可恒定測(cè)試或者設(shè)定沖擊)
7.溫度波動(dòng)度:±0.5℃
8.溫度偏差:±2.0℃
9.溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間:≤5min(負(fù)載;3KG塑膠)
符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。 
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 
GB/T 2423.22-2002溫度變化 
QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則, 
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法; 
GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;

 

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